电容式接近开关LJC38A4-20-J/DZ 价格
LJC38A4-20-J/DZ电容式接近开关是一款采用电容感应原理设计的非接触式检测装置，适用于多种工业场景中对金属或非金属物体的位置检测需求。该产品通过检测被测物体接近时引起的电场变化实现信号输出，具备反应灵敏、适应性强的特点，可广泛应用于自动化设备、产线控制、物料识别等领域。
该产品采用一体化结构设计，外壳材质兼顾防护性与抗干扰能力，能够在复杂工况下保持稳定工作状态。感应面设计经过优化，检测距离最大可达20mm，且支持灵敏度调节功能，用户可根据实际应用需求灵活调整检测阈值。输出信号类型为直流三线制，支持NPN或PNP两种输出方式，兼容主流控制系统的接入需求。
在性能方面，LJC38A4-20-DZ具备良好的温度适应范围，工作环境温度覆盖-25℃至+70℃，可满足多数工业场景的环境要求。产品采用全密封工艺处理，防护等级达到IP67，能有效抵御粉尘侵入和液体泼溅的影响。其内部电路设计注重稳定性，具备抗电磁干扰能力，在存在变频器、电机等干扰源的场景中仍能保持可靠检测。
安装方式采用标准M30螺纹结构，支持嵌入式或非嵌入式安装，便于集成到各类机械设备中。产品提供LED状态指示灯，可实时显示工作状态，便于现场调试和维护。供电电压范围覆盖10-30VDC，适应不同供电环境的需求。
该型号产品适用于木材加工、食品包装、注塑机械等领域的物料位置检测、设备安全防护等场景，其非接触式检测特性可有效减少机械磨损，延长设备使用寿命。产品采用模块化设计理念，维护简便，可为用户提供长期稳定的检测解决方案。
电容式接近开关
LJC12A3-A-Z/AX , LJC12A3-A-Z/BY, LJC12A3-A-Z/AY ,LJC18A3-5-Z/BX, LJC18A3-5-Z/AX LJC18A3-5-Z/BY, LJC18A3-5-Z/AY ,LJC18A3-B-Z/BX , LJC18A3-B-Z/AX, LJC18A3-B-Z/BY LJC18A3-B-Z/AY,LJC24A3-8-Z/BX, LJC24A3-8-Z/AX , LJC24A3-8-Z/BY , LJC24A3-8-Z/AY LJC24A3-8-J/EZ, LJC24A3-8-J/DZ , LJC18A3-B-J/DZ, LJC18A3-5-J/DZ, LJC18A3-5-J/EZ LJC18A3-B-J/EZ,LJC24A3-T-Z/BX, LJC24A3-T-Z/AX, LJC24A3-T-Z/BY , LJC24A3-T-Z/AY LJC24A3-T-J/EZ,LJC24A3-T-J/DZ ,LJC30A3-10-Z/BX, LJC30A3-10-Z/AX ,LJC30A3-10-Z/BY LJC30A3-10-Z/AYLJC30A3-10-J/EZ LJC30A3-10-J/DZ， LJC30A3-H-Z/BX LJC30A3-H-Z/AX LJC30A3-H-Z/BY LJC30A3-H-Z/AY LJC30A3-H-J/EZ LJC30A3-H-J/DZ LJC34A3-K-Z/BX LJC34A3-K-Z/AX LJC34A3-K-Z/BY LJC34A3-K-Z/AY LJC34A3-K-J/EZ LJC34A3-K-J/DZ LJC20A4-10-Z/BXLJC20A4-10-Z/AX LJC20A4-10-Z/BY LJC20A4-10-Z/AY LJC20A4-10-J/EZ LJC20A4-10-J/DZLJC38A4-20-Z/BX LJC38A4-20-Z/AXLJC38A4-20-Z/BY LJC38A4-20-Z/AY LJC38A4-20-J/EZ LJC38A4-20-J/DZLJC80A4-40-Z/BX LJC80A4-40-Z/AXLJC80A4-40-Z/BY LJC80A4-40-Z/AY LJC80A4-40-J/EZ LJC80A4-40-J/DZ LJC12A3-2-Z/BX, LJC12A3-2-Z/AX, LJC12A3-2-Z/BY ,LJC12A3-2-Z/AY, LJC12A3-A-Z/BX
工作原理
电感式接近开关属于一种有开关量输出的位置传感器，它由LC高频振荡器和放大处理电路组成，利用金属物体在接近这个能产生电磁场的振荡感应头时，使物体内部产生涡流。这个涡流反作用于接近开关，使接近开关振荡能力衰减，内部电路的参数发生变化，由此识别出有无金属物体接近，进而控制开关的通或断。这种接近开关所能检测的物体必须是金属导电体
电容式接近开关系列
电感式接近开关由三大部分组成：振荡器、开关电路及放大输出电路。振荡器产生一个变交磁场，并 达到感应距离时，在金属目标内产生涡流，从而导致振荡衰减，以至停振。振荡器振荡及停振的变化被后级放大电路处理并转换成开关信号，触发驱动控制器件，从而达到非接触式之检测目的。
|
