J2-J激光光学经纬仪
以下是为您整理的J2-J激光光学经纬仪产品介绍。该设备作为高精度测量仪器,适用于工程测绘、建筑施工等领域。
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产品应用:
激光是一种方向性极强、能量十分集中的光辐射,这对于实现测量过程的高精度、方便性及自动化是十分有益的。利用激光这一特性,本产品可用于:可用于较高精度的角度坐标测量和定向准直测量场合,如:大型船舶的制造;中小型水坝坝体位移测量;重型机器的窗身校正,机件变形测量;港口、桥梁工程;大型管道、管线的铺设;隧道、井巷工程;高层建筑、大型塔架;飞机机架安装;天顶方向的垂线测量;水准测量。
产品特点:
本产品是在J2-2光学经纬仪上引入半导体激光器,通过望远镜发射。激光束与望远镜视准轴保持同轴、同焦。因此,本产品除具备光学经纬仪的所有功能外,还提供一条可见的激光束,十分便利于工程施工。由于半导体激光发射器较气体发生器具有使用寿命长、功耗小等优点,使得本产品使用两节AA电池可工作一个工作日。本产品还配置了双弯管目镜,便于使用者观测天顶方向。若不使用激光,本仪器仍可作一般2″光学经纬仪使用。
技术特征:
仪器型号
J2-JDE
望远镜
正像
激光管类型
激光二极管
激光波长
635nm
有效射程(白天)
200m
小调焦距离
2m
光斑大小
5mm/100m
用波带片时十字线宽
1mm/30m
激光束聚集时光斑中心
不大于5″
电源
DC3V(两节5号电池)
工作温度
-10℃ ~ +45℃
MiniTest730F5涂层测厚仪 MiniTest730FN1.5涂层测厚仪 MiniTest730FN1.5涂层测厚仪 MiniTest730FN1.5涂层测厚仪 MikroTest NIFE50涂镀层测厚仪 MINITEST740F2涂层测厚仪 MikroTest S10涂镀层测厚仪 MikroTest S10涂镀层测厚仪 自动涂层测厚仪Mikro Tset6 MikroTest S3涂镀层测厚仪 超声涂层测厚仪 QuintSonic MikroTest S5涂镀层测厚仪 涂镀层测厚仪MIKROTEST-Ni100
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