| 特点：世界新科技，手机外形，小测面积菜单操作，分辨率0.1µm，两类基体自动识别量程：0-1500µm，0-60mils，90°直角探头九种规格，统计值在线显示德国PHYNIX公司制造。 技术参数： 测量范围 0-1500µm,0 - 60mils
误差 1µm或1%读数
分辨率 0.1µm或<测量读值的2%
显示 背景照明，四位读数显示，两行统计数字显示，英文操
作指南
基体小面积 5mmX5mm
基体小曲率 凸面：1.5mm 凹面：5mm
基体小厚度 F型：0.2mm ,N型： 50µm
校准 厂家校准，零校准，校准箔校准
数据统计（仅限统计型）
读数个数（多9999个），平均值，标准偏差，
大值和小值
数据存储（仅限统计型） 多200个测量数值,可单独调出
数据值（仅限统计型） 上下限可调,声音报警
数据接口 红外通讯,IrDA标准 环境温度/表面温度 0-50℃/150℃
电源 2节1.5伏AA碱性干电池
仪器尺寸 137x66x23 符合标准 DIN，ISO，ASTM，BS 可选型号：
1、两用基本型膜厚仪
型号 Surfix B FN
仪器 1120201201 基本型,特快反应速度,分体测头.可测铁基体上涂镀层和有色金属基体上涂层.量程:0-1500μm,全量程内误差<±1μm+1~3%读数,分辨率0.1μm.手机式外形和操作指南.背景光照明,小碳化钨超耐磨测头
２、两用统计型膜厚仪
型号 Surfix FN
仪器 1120201203 碳化钨超耐磨测头.特快反应速度,同屏显示数据统计值.可存储前80测值,可测铁基体上涂镀层和有色金属基体上涂层, 量程:1500μ m.分辨率:0.1μ m.背景光照明,特小基面积(5x5mm)有红外接PC及打印机
３、铁基基本型测厚仪
型号 Surfix B F
仪器 1120201205 特快反应速度，分体测头。量程：0-1500μm,全量程内误差<±1μm+1~3%读数，分辨率0.1μm。手机式外形和操作指南。背景光照明，声音提示，世界小碳化钨超耐磨测头，特小基面积(5x 5mm)
４、铁基统计型膜厚仪
型号 Surfix F
仪器 1120201207 碳化钨超耐磨测头.特快反应速度,同屏显示数据统计值.可存储前80个测值,可测铁基体上镀层和绝缘涂层, 量程:1500μ m.分辨率:0.1μ m.背景光照明，声音提示,特小基面积(5x 5mm)有红外接PC与打印机
５、非铁基基本型膜厚仪
型号 Surfix B N
仪器 1120201209 碳化钨超耐磨测头,特快反应速度,可测有色金属基体上的绝缘涂层以及铝氧化膜厚度, 量程:1500μ m。分辨率:0.1μ m. 背景光照明，声音提示,特小基面积(5x 5mm) ,手机式外形和操作指南
６、非铁基膜厚仪
型号 Surfix N
仪器 1120201211 碳化钨超耐磨测头.特快反应速度,同屏显示数据统计值.可存储前80个测值,可测有色金属基体上绝缘涂层, 量程:1500μ m.分辨率:0.1μ m.背景光照明,声音提示,特小基面积(5x 5mm)有红外接PC及打印机
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