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产品名称: 超声波测厚仪,26MGXTDL 美国泛美
产品型号: 26MGXTDL
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超声波测厚仪,26MGXTDL 美国泛美

 

中文介绍

美国泛美26MGXTDL超声波测厚仪是一款集多种功能于一体的便携式测厚设备,专为测量腐蚀金属等复杂材料厚度而设计。它采用双晶探头,能够从被测物体的一面进行测量,适用于被腐蚀、有凹痕、被氧化或呈粒状等较难测量的物体。该设备测量范围为0.5mm至500mm,测量温度范围为-20℃至500℃
26MGXTDL结合了26MG-XT的特性与数据采集功能,配有RS-232数据输出接口,可与计算机或打印机连接,便于数据存储和分析。其内置数据存储器能记录约8000个厚度读数。此外,它还具备自动探头识别功能,能快速识别已编号的探头类型并调整内部参数。设备采用AA5号电池供电,可连续工作250小时,并具备自动关机功能以节省电量

English Introduction

The Panametrics 26MGXTDL Ultrasonic Thickness Gauge is a portable thickness measurement device designed for measuring the thickness of corroded metals and other complex materials. It uses a dual-element probe to measure from one side of the object, making it suitable for measuring objects that are corroded, have dents, are oxidized, or have a granular surface. The device has a measurement range of 0.5mm to 500mm and can operate in temperatures from -20℃ to 500℃.
The 26MGXTDL combines the features of the 26MG-XT with data acquisition capabilities. It is equipped with an RS-232 data output interface, allowing it to connect to computers or printers for convenient data storage and analysis. The built-in data storage can record approximately 8,000 thickness readings. Additionally, it features automatic probe identification, which can quickly recognize numbered probes and adjust internal parameters accordingly. The device is powered by AA batteries and can operate for up to 250 hours. It also includes an auto-shutoff function to save power.
简单介绍
美国泛美超声波测厚仪,26MGXTDL 测量腐蚀金属理想的便携式测厚仪·使用双晶探头 ,从被测物的一面就可以测量·测量腐蚀 ,有凹痕,被氧化或呈粒状等物体的厚度


 

美国泛美超声波测厚仪,26MGXTDL

的详细介绍
美国泛美超声波测厚仪26MGXTDL 美国泛美超声波测厚仪www.63504668.com/26MGXTDL

26MG
超声波测厚仪

·测量腐蚀金属理想的便携式测厚仪
·使用双晶探头 ,从被测物的一面就可以测量
·测量腐蚀 ,有凹痕,被氧化或呈粒状等物体的厚度

 

 
 

技术规格
型号
26MG
26MG-XT
26XTDL
显示屏
液晶显示45×20mm
测量范围
0.5~500mm
频率范围
1MHZ ~15MHZ (-3dB)
声速范围
0.762~13,999mm/μsec
显示精度
0.1/0.01mm
存储装置
8000组厚度值
增益闸门
高/低任选
高/低任选
差分测量
 
高低报警
背光
自动/手动(任选)
工作温度
-10~50℃
测量温度
-20~500℃
探头种类
双晶/自动识别
RS232接口
选件
选件
电池
AA 5#电池×2 工作250小时
外型尺寸
64.8 × 128.5 × 29mm
重量
0.24Kg

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