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江苏绿扬
供应 高频信号发生器, YB1053C
供应高频信号发生器,YB1053C YB1053C高频信号发生器产品介绍 【中文版】 YB1053C高频信号发生器是一款专为现代电子测试与研发设计的精密仪器,可满足通信设备调试、射频模块开发、教学实验等多种场景需求。设备采用先进的频
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供应 高频信号发生器,YB1053D
供应高频信号发生器,YB1053D 高频信号发生器YB1053D产品介绍 中文介绍 高频信号发生器YB1053D是一款性能卓越的电子测试设备,它在电子工程、通信技术、科研开发等诸多领域都有着广泛的应用。该设备能够产生频率范围宽广的高频信号
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供应 高频信号发生器, YB-1053E 品牌价格
供应高频信号发生器,YB-1053E品牌价格 产品概述 YB-1053E数字合成高频信号发生器是一款采用先进直接数字合成(DDS)技术的专业仪器,适用于电子电路测试、通信设备调试及科研实验等领域。该产品通过可编程逻辑器件与数字化调制技术实
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供应 高频信号发生器,YB1052 价格 品牌
供应高频信号发生器,YB1052价格品牌 产品名称:高频信号发生器YB1052/High-FrequencySignalGeneratorYB1052 产品简介(中文版): YB1052高频信号发生器是一款专为电子测试与研发设计的精
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供应 YB-1052A ,高频信号发生器
供应YB-1052A,高频信号发生器 YB-1052A高频信号发生器 中文介绍 YB-1052A高频信号发生器是一款性能卓越的电子测试设备,广泛应用于电子产品研发、通信系统测试、高校科研教学以及各类电子实验室。它能够产生频率范围宽广的高频
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供应 YB1052B, 高频信号发生器 价格
供应YB1052B,高频信号发生器价格 产品概述 YB1052B高频信号发生器是一款专业电子测试设备,适用于实验室、教学及工业应用场景。该设备采用先进技术,能够稳定输出多种波形信号,满足不同测试需求。其设计轻便,操作简便,具有较高的性价比
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供应 高频信号发生器,YB1051
供应高频信号发生器,YB1051 YB1051高频信号发生器产品介绍(中文版) YB1051高频信号发生器是一款专为电子测试、通信系统调试及射频应用设计的高性能信号源设备。其核心功能是提供稳定、精确的高频信号输出,满足科研实验、教学
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供应 高频信号发生器, YB1051A 品牌 价格
供应高频信号发生器,YB1051A品牌价格 中文介绍 YB1051A高频信号发生器是上海双旭电子有限公司生产的专业设备。其工作频率范围为100kHz~40MHz,频率显示误差为±;0.1%±;1个字。输出幅度范围为
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供应 YB1056 ,标准信号发生器 价格
供应YB1056,标准信号发生器价格 【YB1056多功能信号发生器产品介绍(中文版)】 YB1056多功能信号发生器是一款专为电子测试与信号模拟需求设计的高性能仪器设备,适用于多种场景下的信号生成与分析任务。设备采用先进的电路设计
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供应 YB-3114在线/离线集成电路测试器
供应YB-3114在线/离线集成电路测试器 产品概述 YB-3114在线/离线集成电路测试器是一款功能强大的测试设备,适用于多种数字集成电路的功能测试。该设备支持TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU及可编程器件的测试,能够
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在线/离线集成电路测试器/YB-3117
在线/离线集成电路测试器/YB-3117 YB-3117集成电路测试器产品介绍 中文介绍:YB-3117集成电路测试器是一款专业、高效且实用的电子检测设备,专为满足电子工程师、维修人员以及电子爱好者对集成电路性能检测的需求而精心设计。它具
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供应 在线/离线集成电路测试器YB3118
供应在线/离线集成电路测试器YB3118 ‌YB3118集成电路测试器产品介绍(中文版)‌ YB3118集成电路测试器是一款专为电子元器件研发、生产及品质检测设计的高效测试设备,支持在线与离线双重测试模式,满足多
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YB3116A集成电路测试器
YB3116A集成电路测试器 YB3116A集成电路测试器产品介绍(中文) YB3116A是一款专业用于数字集成电路功能检测的仪器设备,适用于科研机构、电子制造业及教育领域的集成电路性能验证工作。该设备采用模块化设计,可支持TTL54/7
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供应 半导体特性图示仪,YB4810A
供应半导体特性图示仪,YB4810A 产品介绍 中文介绍 YB4810A半导体特性图示仪是一种用于测试半导体器件特性的专业仪器。它能够通过示波管清晰地显示半导体器件的各种特性曲线,包括晶体管的输入输出特性、二极管的正反向特性以及稳压管的特
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供应 YB-4811,半导体特性图示仪 价格 品牌
供应YB-4811,半导体特性图示仪价格品牌 YB-4811半导体特性图示仪产品介绍(中文) YB-4811半导体特性图示仪是一款专业用于显示半导体器件特性曲线的测试仪器,可测量各类晶体管、二极管等器件的静态参数及极限参数,同时支持双簇曲
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